随着电子产品集成度不断提升，PCB、电子模块以及各类功能组件中的测试点数量持续增加。如何快速判断测试点之间是否存在开路、短路等异常，成为电子制造与自动化测试过程中面临的重要问题。针对多测试点检测需求，联康信息自主研发了一种检测阵列测试点开短路的测试方法，通过测试通道自动切换、多模块协同控制以及数据智能判断，实现测试点状态自动检测，提高电子测试过程中的效率、稳定性与可追溯能力。

多测点检测面临的挑战

在 PCB、电子模块及自动化测试场景中，测试系统核心验证目标包含四点：测试点开路排查、节点短路检测、电平状态合规校验、故障点位快速定位。随着测试点位规模提升，传统检测方案暴露三大痛点：

测试效率偏低：海量测点依赖人工接线、测量与数据记录，无法适配大批量、高速化的产线测试需求。

测试流程繁琐：各测点电路互联关系复杂，需依照测试逻辑完成多路通道切换与信号判别，操作链路冗长。

故障定位耗时：传统手段仅可判定产品整体合格状态，难以精准锁定异常测点，拉高问题复盘与调试成本。因此，电子测试方案亟需由人工单点检测，升级为自动化阵列检测模式。

专利方案：构建多模块协同测试架构

针对上述需求，该专利提出了一种基于多模块协同控制的阵列测试方法。整个测试流程可以概括为：测试点接入 → 通道自动切换 → 信号采集 → 状态判断 → 结果输出

开短路自动检测实现原理

该测试方案通过程控管控测点状态，配合信号采集完成自动化判定，完整流程分为三步：

通道切换：系统依照程序指令切换测试通道，激活目标测点进入检测模式。

测试流程繁琐：采集模块读取测点电气信号，将实测数据回传至控制系统。

故障定位耗时：依托预设判据解析测试数据电气状态达标，判定测试合格；识别异常信号，输出精准故障信息。测试结果与测点编号一一绑定，构建测点编号→检测状态→故障位置→原始测试数据的全链路溯源能力。相较于传统人工检测，本方案降低人为操作偏差，提升测试效率，同时实现测试数据规范化管理。

多场景电子测试应用

本专利技术可覆盖多类电子测试应用场景：

从单点测量到智能化阵列检测

本发明专利的核心价值，是完成电子测试模式的迭代升级。

✅ 传统测试模式：人工定位测点→手动接线→单点测量→人工录入数据

✅ 全新自动化模式：通道自动切换→并行多点采集→智能逻辑判定→全量数据溯源面向电子产品测点规模持续增长的行业趋势，该项技术可为自动化测试装备提供更灵活、高性能的检测解决方案。

围绕电子测试领域，联康信息持续开展测试设备、自动化测试系统以及智能检测方案研发。通过测试仪器、控制板卡、测试治具以及软件系统的深度融合，为客户提供覆盖电子制造、半导体测试及自动化检测场景的完整解决方案。