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随着电子产品集成度不断提高，主板测试对电气连接、探针定位及测试夹具的结构精度提出了更高要求。刀片探针作为连接被测主板与测试系统的重要组件，其安装结构不仅关系到测试连接的稳定性，也直接影响夹具的加工与维护。围绕传统针模块加工难度大、成本较高等问题，联康信息研发了一种用于测试主板的刀片探针夹具，通过分体式结构设计，对探针定位、模芯加工及拆装方式进行优化。
主板电气性能测试中，刀片探针（Blade Probe）负责信号传输与电气连接。测试工况下，刀片探针内置在针模块中，一端接测试电路板（TPCB），另一端对接被测主板，依靠自身弹性缓冲结构与前端接触区域完成测试信号传递。
传统针模块普遍为一体式结构，整体尺寸偏长，内部精密针孔加工精度要求严苛。不仅打孔加工难度大，还易损伤加工刀具，拖累加工效率、推高制造成本。
因此，夹具设计需解决：在保障探针安装定位精度的前提下，降低结构加工难度这一难题。
分体式模芯设计，优化精密加工结构
针对传统结构存在的加工难点，联康信息提出分体式针模块方案，由第一模芯、第二模芯与第三模芯构成。各模芯分别开设针孔、凹槽及定位结构，经组合装配形成完整的刀片探针安装腔。
相较于一体式结构，分体式设计将长针模块拆分为多个短独立零件，降低深孔加工难度，减少复杂切削与重复加工工序。该方案在满足装配要求的前提下简化加工流程，为多规格针模块制造提供更灵活的结构选择。
精细化定位设计，兼顾安装与维护
除分体式结构外，探针安装定位也是该专利设计的核心内容。
1：精密槽孔配合
第二、第三模芯开设相互贯通的方形槽，槽宽控制在 0.14～0.16mm，通过槽孔结构配合实现刀片探针定位。
2：多层结构限位
各模芯采用对应针孔深度设计，配合顶部凹槽与底部支撑结构，确保刀片探针按预设位置安装，限制其工作中异常上移或脱出。
3：可拆卸模芯结构
各模芯采用可拆装连接形式，便于后续拆卸、维护与更换，也可根据刀片探针长度调整对应模芯配置。
上述结构设计，使夹具在实现探针精准定位的同时，兼顾了加工便利性与后期维护需求。
从结构优化到制造应用
精密测试夹具的结构设计，需在满足功能要求的同时，兼顾加工工艺、装配难度与维护成本。
联康信息此次提出的刀片探针夹具方案，主要具备以下技术特点：
简化加工工艺： 通过分体式模芯设计，降低长针孔加工难度。
优化探针定位： 依托多层针孔与精密槽结构，实现探针安装与限位。
便于拆装维护： 采用可拆卸模芯结构，方便部件维护与调整。
提升制造适配性： 适配不同尺寸零件的加工需求，降低复杂结构的制造难度。
这一设计将探针安装定位与模芯加工工艺相结合，为主板测试夹具的结构优化提供了技术方案。
应用场景：面向主板电气性能测试
刀片探针夹具主要应用于主板电气性能测试，通过探针连通测试电路板（TPCB）与被测主板，实现测试信号传输与电气连接。
1：主板电气测试
通过刀片探针与被测主板建立电气连接，为主板性能检测提供测试信号传输通道。
2：精密测试连接
依托针孔、定位槽及探针弹性结构完成探针安装定位，满足主板测试的接触连接需求。
3：测试夹具加工与维护
采用分体式模芯结构，适配不同尺寸针模块加工，便于模芯拆卸、维护及调整。
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